Рассматривается прямая задача технического диагностирования, состоящая в определении технического состояния нейронной сети с последовательными связями по результатам тестовой проверки. Представлены графовая и аналитические модели поведения нейронных сетей с последовательными связями, учитывающие техническое состояние нейронов и входных-выходных полюсов. Предложен усовершенствованный метод выделения подозреваемых логических неисправностей, при которых возможно наблюдаемое поведение нейронной сети с последовательными связями. Метод позволяет выявлять нелогичность подозреваемых неисправностей. Построение выражений подозреваемых неисправностей выполняется по структуре правильной логической сети, которая является более компактной моделью по сравнению с графом состояний и неисправ-ностей

Р. А. Бабкин – инженер электронной техники, программист, ЗАO БДО Юникон Бизнес Солюшнс.